三星为汽车安全部署行业领先的新思科技TestMAX XLBIST动态系统内测试解决方案

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  新思科技TestMAX XLBIST解决方案通过克服阻碍传统自测试解决方案的硅问题，提供更高的故障覆盖率和更短的测试时间

• 新思科技TestMAX XLBIST是新思科技TestMAX产品系列的最新成员，该产品系列用于实现RTL-to-GDSII测试

加州山景城2020年2月28日 /美通社/ -- 新思科技（Synopsys, Inc.，纳斯达克股票代码：SNPS）近日宣布，三星成功在其汽车集成电路上部署了新思科技TestMAX^™ XLBIST解决方案，提供关键故障的动态系统内测试，以满足严苛的功能安全要求。汽车技术的加速发展意味着需要更多的汽车芯片来满足自动驾驶和高级驾驶辅助系统(ADAS)的更高汽车安全完整性等级(ASIL)要求。IC Insights的一项研究显示，据预测，未来数年，汽车集成电路需求的增长速度将超过所有其他终端用户应用。新思科技汽车设计解决方案让开发者能够提供业界领先的全面的功能来实现功能安全机制，从而达到他们的目标ASIL。

使用新思科技TestMAX XLBIST解决方案，三星得以高效实现动态系统内测试，在车辆运行关键阶段（包括通电、驾驶模式和断电）定期执行测试。作为业界首个容许不确定数字状态同时快速实现高故障覆盖率的自测试解决方案，新思科技TestMAX XLBIST使开发者能够最小化设计实现的周转时间。新思科技XLBIST解决方案，包括其他TestMAX产品，是三星RTL-to-GDSII设计汽车参考流程非常重要的一部分。

三星印度研究院副总裁S. Balajee表示：“三星的目标是为客户提供创造性解决方案，满足其高要求汽车设计实现的需求。作为与新思科技合作打造三星世界级汽车参考流程的一部分，新思科技TestMAX XLBIST发挥着关键作用，帮助实现客户的测试覆盖和测试时间功能安全目标，同时最大限度地减少设计影响。”

新思科技TestMAX XLBIST解决方案提供非常高的系统内测试故障覆盖率，同时轻松满足最大允许测试时间。XLBIST解决方案可避免之前系统内测试技术常见的迭代设计修改、显著的硅面积增加以及更长的项目时间表等问题。新思科技TestMAX XLBIST与TestMAX Access的结合，可通过嵌入式控制器实现低延迟上电自测试(POST)，也可以通过CPU接口实现可配置系统内测试。XLBIST解决方案利用其他新思科技TestMAX产品组合，提供基于RTL的可测试性分析以尽早找到测试问题；物理感知测试点插入以提高故障覆盖率；以及功耗感知测试向量生成以满足系统级功耗目标。新思科技TestMAX产品系列支持全面的RTL-to-GDSII可测试性设计实现流程（完全整合到新思科技Fusion平台），并提供业界领先的全面的测试和DFT能力。

新思科技芯片设计事业部测试自动化副总裁Amit Sanghani表示：“TestMAX XLBIST解决方案是我们为客户提供的数项测试创新之一，可满足其对汽车和其他任务关键型设计的质量和可靠性需求。与三星等领先公司密切合作可加快我们提供业界领先解决方案的能力，满足客户对于结果质量、上市时间和安全性的目标。”